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X光螢光光譜儀 EDX-LE
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X光螢光光譜儀 EDX-LE

具備自動選擇檢量線、自動縮短測量時間等篩選器所需簡單操作的軟體及採用大型樣品室的硬體等最適合篩選器分析的功能、性能。還可使用篩選分析法做為測試條件,並可定義分析主要元素。具備最適合RoHS/ELV及鹵素篩選功能的軟體,通遛安裝無需液氮冷卻的檢測器,將裝置維護控制到最小。通過與功能追加工作曲線(選配件)相組合,使用普通分析軟體的定性分析、膜厚分析、鋼種判別等也可用於篩選以外的其他用途。

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產品描述

具備自動選擇檢量線、自動縮短測量時間等篩選器所需簡單操作的軟體及採用大型樣品室的硬體等最適合篩選器分析的功能、性能。還可使用篩選分析法做為測試條件,並可定義分析主要元素。具備最適合RoHS/ELV及鹵素篩選功能的軟體,通遛安裝無需液氮冷卻的檢測器,將裝置維護控制到最小。通過與功能追加工作曲線(選配件)相組合,使用普通分析軟體的定性分析、膜厚分析、鋼種判別等也可用於篩選以外的其他用途。


Primary Specification:
Measurement principle: X-ray fluorescence spectrometry
Measurement method: Energy dispersive
Measurement sample type: Solid,liquids,or powder
Elements to be Detected: 13Al ~ 92U
Sample chamber size: Max. W370 mm x D320 mm x H155mm

X-ray generator
X-ray tube: Rh Target
Tube Voltage: 5 - 50kV
Tube Current: 1 - 1000mA
Cooling method: Air cooling (with fan)
Exposure area: Automatic switching between 3,5,10mm dia.areas
Primary filter: Automatic switching between : 5 types + open

Detector
Type: Silicone-drift detector(SDD)
Liquid nitrogen: Not required
Counting method: Digital filter counting

Sample chamber
Measurement atmosphere: Air
Sample observation: CCD camera

Software
Screening analysis: simple operation software
Qualitative analysis: measurement/analysis software
Quantitative analysis: calibration curve method, FP method
Utilities: Automatic calibration function
          (enengy calibration, full-width half-maximum calibration)
Other function: system-status monitoring function
                        Analysis –result tabulation function
                       Analysis –result report creation function